MTI Instruments手動(dòng)半導(dǎo)體計(jì)量系統(tǒng)
發(fā)布時(shí)間:2021-06-28 17:08:07 瀏覽:872
MTI Instruments晶圓測厚儀是一種基于電容的差分測量系統(tǒng),它能夠不接觸地測量半導(dǎo)體和半絕緣晶圓的厚度。采用MTI推拉技術(shù),MTI Instruments不需要具備相同電接地的晶片,從而為大多數(shù)晶圓類型提供了優(yōu)良的精度和中繼器。MTI Instruments系統(tǒng)包括完整的遙控操作軟件和以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)接口功能。
特性
前端USB端口能夠方便地將測量數(shù)據(jù)和其他數(shù)據(jù)存儲在閃存;
MTI儀器的專用電容器電路具有優(yōu)良的精度和可靠性;
非接觸測量;
直徑76-300毫米晶圓范圍;
可選晶片測量環(huán);
精密定心用晶片塊;
以太網(wǎng)接口;
完整的遠(yuǎn)程控制軟件(Windows兼容);
可選校準(zhǔn)晶片;
深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司,優(yōu)勢直接渠道提供MTI Instruments訂貨服務(wù),歡迎咨詢。
詳情了解MTI Instruments 請點(diǎn)擊:/brand/70.html
或聯(lián)系我們的銷售工程師:0755-83050846 QQ: 3312069749
P/N | Model | Measurement Range | Accuracy | Resolution | Type | Frequency Response | ||||
8000-6760-001 | Proforma 300i | 1700μm (66.9mil/s) | ±0.25 μm | 0.05μm | Desktop System | 16.6Hz | ||||
8000-6760-002 | Proforma 300Gi | 1700μm (66.9mil/s) | ±0.25 μm | 0.05μm | Desktop System | 16.6Hz |
上一篇: Renesas儀表放大器
下一篇: ANDON超薄型承載插座
推薦資訊
Teledyne SP Devices ADQ8-8C具備緊密的模塊樣式,每板8通道,高精度多板數(shù)據(jù)同步功能模塊,是規(guī)模性多通道實(shí)現(xiàn)的理想化選擇。直流電耦合,具備可編程控制器直流電偏移,輸入電壓范圍(VG)和輸入阻抗(50和1MΩ)。相結(jié)合高模擬輸入帶寬,Teledyne SP Devices ADQ8-8C能夠支持多種多樣傳感器。Teledyne SP Devices ADQ8-8C在Xilinx FPGA上具備強(qiáng)大的功能模塊和可用作實(shí)時(shí)數(shù)字信號處理的資源。
MTI Instruments? ProfileTrakG系列產(chǎn)品是適用于小空間的緊湊型輪廓傳感器。MTIInstruments2D/3D傳感器選用全新的CMOS技術(shù)應(yīng)用,提供精準(zhǔn)的輪廓、高度、寬度和定位精確測量,測量速率高達(dá)4000Hz,內(nèi)置顯示,測量精度優(yōu)良,接口兼容(如千兆以太網(wǎng))。MTI Instruments ProTrakG:2D/3D激光/3D檢測范圍從36mm到400mm,適用于輪廓、高度、寬度和定位精確測量應(yīng)用領(lǐng)域。
在線留言